În figură se prezintă un montaj simplu pentru testarea și compararea tranzistoarelor FET și MOS-FET. Montajul cuprinde un oscilator în care elementul activ este dispozitivul de testat. Frecvența oscilatorului este determinată de circuitele oscilante L1C3 (cca 150 MHz) sau L2C2 (cca 10 MHz), în funcție de poziția comutatorului K1. Montajul este conceput pentru testarea tranzistoarelor FET cu canal N și tranzistoarelor MOS. În cazul în care tranzistorul de testat este cu canal P, se va inversa polaritatea sursei de tensiune. Semnalul oscilatorului este detectat de dioda D1 (1N4449, 1N4148 etc.) și, prin compararea semnalului detectat (indicația microampermetrului, care poate fi de tipul celor folosite în magnetofoane), la diferite exemplare, și la cele două frecvențe, se pot trage concluzii privind comportarea în radiofrecvență a dispozitivelor respective.
Bobina L1 are 3 spire din sârmă de cupru ϕ 0,8 (preferabil argintat), în aer, ϕ 13 mm pe o lungime de 5 mm. Bobina L2 are 10 spire din sârmă CuEm ϕ 0,5, spiră lângă spiră, pe carcasă cu ferocart de ϕ 10. Șocul de radiofrecvență L3 poate fi pe ax comun cu potențiometrul de reglare a sensibilității R5, de cca 1 mH. Comutatorul K2 poate fi pe ax comun cu potențiometrul de reglare a sensibilității R5.
Atenție! În cazul testării tranzistoarelor neprotejate în interior, inelul de scurtcircuitare de pe terminale se va demonta numai după conectarea tranzistorului în pensa de testare. După terminarea măsurătorilor, inelul de protecție se va monta la loc înainte de scoaterea tranzistorului din pensă.
Explicație de funcționare
Circuitul reprezintă un tester dinamic de radiofrecvență (RF) conceput ca un oscilator LC de înaltă frecvență (VHF/HF). Calitatea tranzistorului testat (FET sau MOSFET) este evaluată pe baza capacității sale de a iniția și de a menține oscilații stabile la frecvențe mari.
- Oscilația de radiofrecvență: Tranzistorul introdus în „pensă” devine elementul amplificator activ dintr-un circuit oscilant. Comutatorul K1 selectează una dintre cele două benzi de test: rețeaua L1C3 forțează o oscilație de foarte înaltă frecvență (circa 150 MHz, banda VHF), în timp ce rețeaua L2C2 lucrează în banda undelor scurte (circa 10 MHz, banda HF).
- Detecția semnalului (Feedback optic): Când tranzistorul generează oscilații RF, semnalul de înaltă frecvență trece prin condensatorul de cuplaj C6 (500 pF) și este redresat (detectat) de dioda D1. Șocul de radiofrecvență L3 (1 mH) blochează trecerea semnalului de înaltă frecvență către instrument, lăsând să treacă doar componenta continuă rezultată din detecție.
- Măsurarea eficienței: Curentul continuu redresat deviază acul unui microampermetru sensibil (0-50 μA). Intensitatea deviației este direct proporțională cu câștigul și calitatea tranzistorului testat la frecvența respectivă. Potențiometrul R5 (250 kΩ) reglează sensibilitatea aparatului pentru calibrare.
- Protecția anti-statică (Notă critică): MOSFET-urile timpurii (din anii ’70-’80) nu aveau diode de protecție interne pe porți (grile). Ele puteau fi distruse instantaneu de electricitatea statică de pe degetele operatorului. Din acest motiv, textul avertizează că sârma sau inelul metalic care scurtcircuitează pinii tranzistorului nou trebuie îndepărtat doar după ce acesta a fost fixat în siguranță în soclu.
Piese echivalente moderne
Aparatul utilizează componente pasive speciale de RF și o configurație retro care poate fi replicată cu piese actuale:
- Tranzistoarele de testat (FET / MOSFET): Schema originală era destinată testării unor piese clasice precum BF245, 2N3819 (JFET-uri) sau tranzistoare cu dublă poartă (MOSFET) din generațiile vechi. Pentru a folosi soclul cu tranzistoare moderne cu pini (Through-Hole), se pot testa piese ca 2N5485 sau BF256.
- Dioda D1 (1N4148 / 1N4449): Dioda de comutație rapidă din siliciu 1N4148 este și astăzi standardul industrial universal, fiind perfectă pentru acest montaj. Totuși, pentru o sensibilitate sporită la detecția semnalelor RF slabe, se poate folosi o diodă Schottky de mic semnal ultra-rapidă, cum ar fi BAT15 sau BAT43.
- Microampermetrul (0-50 μA): Instrumentele analogice sensibile de 50 μA (de panou) se găsesc mai rar.
- Echivalent modern: Se pot scoate două borne de test în locul aparatului, la care se conectează un multimetru digital setat pe scala de microamperi/miliamperi în curent continuu DC
- Bobinele L1, L2 și șocul L3:
- L1 se realizează manual exact cum descrie textul (3 spire din sârmă de cupru groasă de 0,8 mm înfășurate în aer pe un diametru de 13 mm).
- Pentru L2, carcasele vechi cu ferocart pot fi înlocuite cu un mic miez toroidal de ferită de tip Amidon T50-6 (galben) pe care se bobinează spirele din sârmă emailată.
- Șocul L3 de 1 mH nu mai trebuie bobinat manual; se cumpără gata fabricat ca șoc axial RF de 1 mH (cu aspect de rezistență)
